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1、不同型號的絕緣表測量同一試品時， 應采用相同的電壓等級和接線方法。例如在測量電力變壓器高壓繞組絕緣中，當繞組引出端始終接絕緣電阻測試儀L端鈕時，就有： E端鈕接低壓繞組和外殼，而G端鈕懸空的直接法； E端鈕接低壓繞組，而G端鈕接外殼的外殼屏蔽法（低電位屏蔽）；G端鈕接在高壓繞組套管的表面，而E端鈕先接低壓繞組，然后分別再和外殼相連或不相連的兩種套管屏蔽法（高電位屏蔽）。 E端鈕接外殼，而G端鈕接低壓繞組等接線方法。 不同結構、制式的絕緣電阻測試儀，G端鈕電位不同，G端鈕在套管表面的安放位置也應隨之改變。（KD2677為低電位屏蔽，即G端鈕為低電位）。 

 

2、不同型號絕緣電阻測試儀的量程和示值的刻度方法不同，刻度分辨力不同，測量準確度等級不同，都會引起示值間的差異。為了保證對電力設備的準確測量，應避免選用準確度低，使用不方便的搖表。 

 

3、試品大多含容性分量，并存在介質極化現(xiàn)象，即使測試條件相同也難以獲得理想的數(shù)據(jù)重復性。 

 

4、 測量時，絕緣介質的溫度和油溫應與環(huán)境溫度一致，一般允許相差±5%。 

 

5、應在特定時間段的允許時間差范圍內，盡快地讀取測量值。為使測量誤差不高于±5%，讀取R60S的時間允許誤差±3S，而讀取R15S的時間不應相差±1S。 

 

6、高壓測試電源非理想電壓源，重負荷（被測試品絕緣電阻值小）時，輸出電壓低于其額定值，這將導致單支路直讀測量法絕緣電阻測試儀測量準確度因轉換系數(shù)的改變而降低。這種改變因絕緣電阻測試儀測試電源負荷特性不同而異。 

 

7、不同動態(tài)測試容量指標的絕緣電阻測試儀，試驗電壓在試品上（及采樣電阻上）的建立過程與對試品的充電能力均存在差異，測量結果也會不同，使用低于動態(tài)測試容量指標門限值的絕緣電阻測試儀測量時，由于儀表存在慣性網(wǎng)絡（包括指針式儀表的機械慣性）導致示值響應速度較慢，來不及正確反映試品實在絕緣電阻值隨時間的變化規(guī)律，尤其是在測試的起始階段，電容充電電流未*衰減為零，更會使R15S和吸收比讀測值產生較大誤差（偏小）。 

 

8、試品絕緣介質極化狀況與外加試驗電壓大小有關。由于試驗電壓不能迅速達到額定值，或因絕緣電阻測試儀測試電源負荷特性不同導致施加于試品上試驗電壓的差異，使試品初始極化狀況不同，導致吸收電流不同，使緣電阻測量的示值不同。 

 

9、國外某些絕緣電阻測試儀的試驗高電壓連續(xù)可調，開機后先由零調節(jié)至額定值。絕緣電阻測試儀讀數(shù)起始時間的不確定性，以及高壓達到額定值時間的不確定性，使試品初始極化不同，也將引起示值間的差別。 

 

10、不同絕緣電阻測試儀現(xiàn)場干擾的敏感度和抵御能力不同，對同一試品的讀測值會存在差異。 

 

11、數(shù)據(jù)隨機起伏的常規(guī)測量誤差和絕緣電阻測試儀方法誤差不同等引起示值間的差異。 

 

12、介質放電不充分是重復測量結果存在差異的重要原因之一。據(jù)試品充電吸收電流與其反向放電電流對應和可逆的特點，若需對同一試品進行第二次重復測量，*次測量結束后的試品短路放電間歇時間一般應長于測量時間，以放盡所積聚的吸收電荷量，使試品絕緣介質充分恢復到原先無極化狀態(tài)，否則將影響第二次測量數(shù)據(jù)的準確度。為使被試品上無剩余電荷，每一次試驗前也應該將測量端對地短路放電，有時甚至需時近1小時，并應拆除與無關設備間的聯(lián)線。總之，同一試品不同時期的絕緣測量，應采用相同的試驗電壓等級和接線方法，并盡可能使用同一型號或性能相近的絕緣電阻表，以保證測量數(shù)據(jù)的可比性。 

 

13、選用動態(tài)測量準確度較低和高壓測試電源容量較低的儀表，由于電容充電電流尚未*衰減為零，以及儀表示值不能準確地實時跟隨試品視在絕緣電阻值的變化，讀測R15S阻值偏低，出現(xiàn)較大誤差，導致試品吸收比測試值虛假偏高，應引起測試人員特別重視。這也可能是各種型號高壓絕緣電阻測試儀測量同一試品時吸收比讀測值存在差異的主要原因。由此也說明吸收比判比指標不及極化指數(shù)科學和客觀。